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      MX 60x 系列

      非接觸式晶圓電阻率,厚度和P/N測量儀

      MX60x 系列用來測量硅片和其他材料的電阻率或表面電阻。

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      非接觸式晶圓電阻率,厚度和P/N測量儀

      MX60x 系列用來測量硅片和其他材料的電阻率或表面電阻。

      應用:

      • 晶圓生產
      • 回收
      • R&D
      • 在工藝控制方面
        • 厚度
        • TTV
        • 電阻率/表面電阻
        • RRV
        • 摻雜物


      低電阻率:
      計量器型號 晶圓尺寸 電阻率范圍 厚度范圍
      MX 604 / MX 604-B silicon blocks 0.25 - 25 Ohm*cm  
      MX 604-S 2" - 8" 0.1 - 50 Ohm/square 200 - 900μm
      MX 604-ST 125x125, 156x156mm
      2"-6"
      0.06 - 30 Ohm*cm 60 - 300μm
      MX 608 6", 8" 0.001 - 200 Ohm*cm 500 - 800μm
      MX 608-q 125x125, 156x156mm 0.1 - 50 Ohm*cm 150 - 350μm
      MX 6012 8", 12" 0.001 - 200 Ohm*cm 600 - 900μm


      高電阻率:
      計量器型號 晶圓尺寸 電阻率范圍 厚度范圍
      MX 601 up to 6" 5E4 to 5E9 Ohm*cm 350 - 650μm
      MX 6010 2", 3", 4" 2E5 to 2E9 Ohm*cm 300 - 600μm

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